涂層測(cè)厚儀leeb231
● 中文菜單;
● 兩種工作方式;
● 數(shù)據(jù)刪除功能;
● 對(duì)界限外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;
● 電源欠壓指示;
● 手動(dòng)和自動(dòng)兩種關(guān)機(jī)方式
詳細(xì)介紹
【主要功能】
采用電渦流測(cè)量方法,可檢測(cè)非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。
● 中文菜單;
● 兩種工作方式;
● 數(shù)據(jù)刪除功能;
● 對(duì)界限外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;
● 電源欠壓指示;
● 手動(dòng)和自動(dòng)兩種關(guān)機(jī)方式
● 兩種測(cè)量方式;
● 可儲(chǔ)存500個(gè)測(cè)量值;
● 可設(shè)置界限;
【技術(shù)參數(shù)】
項(xiàng)目名稱
Leeb231
測(cè)頭類型
N1
測(cè)量原理
電渦流
測(cè)量范圍
0 ~ 1250um
分辨率
0.1um
示值誤差
一點(diǎn)校準(zhǔn)
±(3%H+1)um
二點(diǎn)校準(zhǔn)
±[(1~3)%H+1]um
測(cè)試條件
最小曲率半徑
凸1.5mm 凹9mm
最小面積直徑
φ7mm
基本臨界厚度
0.5mm
工作環(huán)境
溫度
0 ~ 40℃
濕度
20% ~ 90%
電源
AA堿性電池2節(jié)
電壓
3V
工作時(shí)間
100小時(shí)
外形尺寸
130*70*25 mm
重量
350g
外殼材質(zhì)
金屬外殼
標(biāo)準(zhǔn)配置
主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、N1探頭、堿性電池
可選配件
標(biāo)準(zhǔn)試片、探頭
PC通訊
有
儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)
探頭 |
F400 |
F1 |
F1/90 |
F10 |
N400 |
N1 |
CN02 |
|||||
測(cè)量原理 |
磁性 |
渦流 |
|
|||||||||
測(cè)量范圍(μm) |
0~400 |
0~1250 |
0~10mm |
0~400 |
0~12500 |
10~200 |
||||||
測(cè)量精度μm |
一點(diǎn)校準(zhǔn) |
±[(1~3)%H+0.7] |
±(3%H+1) |
±(3%H+10) |
±(3%H+1) |
±(3%H+1.5) |
±(3%H+1) |
|||||
二點(diǎn)校準(zhǔn) |
±(1~3%H+0.7) |
±[(1~3)%H+1] |
±[(1~3)%H+10] |
±[(1~3)%H+1] |
±[(1~3)%H+1.5] |
--- |
||||||
低限分辨率 |
0.1 |
0.1 |
1 |
0.1 |
0.1 |
1 |
||||||
最小曲率半徑(mm) |
(凸)1 |
1.5 |
平直 |
10 |
1.5 |
3 |
僅為平面 |
|||||
最小面積直徑(mm) |
¢3 |
¢7 |
¢40 |
¢4 |
¢5 |
¢7 |
||||||
基本臨界厚度(mm) |
0.2 |
0.5 |
2 |
0.3 |
0.3 |
無(wú)限制 |
||||||
測(cè)頭選用參考表
覆蓋層基體 |
有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等) |
非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等) |
|||
覆蓋層厚度不超過(guò)100μm |
覆蓋層厚度超過(guò)100μm |
覆蓋層厚度不超過(guò)100μm |
覆蓋層厚度超過(guò)100μm |
||
如鐵、鋼等磁性金屬 |
被測(cè)面積直徑大于30mm |
F400型測(cè)頭0~400μm |
F1型測(cè)頭 |
F400型測(cè)頭0~400μm |
F1型測(cè)頭 |
被測(cè)面積直徑小于30mm |
F400型測(cè)頭0~400μm |
F400型測(cè)頭0~400μm |
F400型測(cè)頭0~400μm |
F400型測(cè)頭0~400μm |
|
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬 |
被測(cè)面積直徑大于10mm |
N1型測(cè)頭0~1250μm |
僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0~40μm N400測(cè)頭0~40μm |
||
被測(cè)面積直徑大于10mm |
N400測(cè)頭0~400μm |
N400測(cè)頭0~40μm |
|||
塑料、印刷線路非金屬基體 |
被測(cè)面積直徑大于7mm |
-- |
-- |
CN02型測(cè)頭10~200μm |